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電子散斑干涉實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)主要面向大專院校教學(xué)使用。用激光光束直接照射到測試表面，再用CCD采集變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋測定其離面位移。電子散斑干涉應(yīng)用廣泛，如物體形變測量、無損測量、振動測量等。
激光散斑照相實(shí)驗(yàn)儀-當(dāng)相干光照射粗糙表面時，慢散射光在物體表面前方相遇而產(chǎn)生干涉。有些地方光強(qiáng)加強(qiáng)，有些地方光強(qiáng)減弱，從而形成大小、形狀、光強(qiáng)都隨機(jī)激光散的立體斑點(diǎn)，稱之為散斑。這種隨機(jī)分布的散斑結(jié)構(gòu)稱為散斑場。是由無規(guī)散射體被相干光照射產(chǎn)生的，因此是一種隨機(jī)過程。要研究它必須使用概率統(tǒng)計的方法。通過統(tǒng)計方法的研究，可以得到對散斑的強(qiáng)度分布、對比度和散斑運(yùn)動規(guī)律等特點(diǎn)的認(rèn)識。
普朗克常量實(shí)驗(yàn)儀用于高等學(xué)校普通物理實(shí)驗(yàn)，通過用減速場法，測量不同波長單色光的照射下，光陰極材料的截止電壓，驗(yàn)證愛因斯坦方程，進(jìn)而測量普朗克常量的實(shí)驗(yàn)過程，幫助學(xué)生了解光的量子性，學(xué)習(xí)與光電效應(yīng)相關(guān)的實(shí)驗(yàn)技術(shù)和方法。
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